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可测液体或气体中颗粒数

一、筛分法。
长处:简略、直观、设备造价低,常用于大于40um的样品。
缺点:成果受人为要素和筛孔变形影响较大。
 
二、显微镜(图像)法。
长处:简略、直观,可中止描摹分析,适宜分布窄(最大和最小粒径的比值小于10:1)的样品。
缺点:代表性差,分析分布规模宽的样品比较费事,无法分析小于1um的样品。
 
三、沉降法(包括重力沉降和李新沉降)。
长处:操作骤变,仪器可以接连运转,价格低,精确性和反复性较好,测验规模较广。
缺点:测验时刻较长,操作比较繁琐。
 
四、电阻法。
长处:操作骤变可测颗粒数,等效概念明白,速度快,精确性好。
缺点:不适宜测量小于0.1um的颗粒样品,对粒度分布宽的样品转换小孔管比较费事。
 
五、激光法。
长处:操作烦琐,测验速度快,测验规模广,反复性和精确性好,可中止在线测量和干法测量。缺点:成果受分布模型影响较大,仪器造价较高,分辨力低。
 
六、电子显微镜法。
长处:适宜测验超新颗粒以致纳米颗粒,分辨力高,可中止描摹和结构分析,
缺点:样品少,代表性差,测量易受人为要素影响,仪器价格昂贵。
 
七、光阻法。
长处:测验便当疾速,可测液体或气体中颗粒数,分辨力高。
缺点:不适用粒径小于1umde样品,中止体系比较考究,仅适宜对尘土、污染物或已稀释好的药物中止测量,对一般粉体用的不多。
八、透气法。
长处:仪器价格低。不必对样品中止涣散,白刚玉可测测性材料粉体。
缺点:只能得到均匀粒度值,不能测粒度分布;不能测小于5um细粉。
 
九、X射线小角散射法。
用于纳米级颗粒的粒度测量。
 
十、光子有关谱法(动态光散射法)。
用于纳米级颗粒的粒度测量。
 

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【 浏览次数: 】 【 加入时间:2015-8-26 16:15:09 】 【 关闭本页
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